[发明专利]利用时钟调制技术测试高速存储器件的方法无效
| 申请号： | 97116553.X | 申请日： | 1997-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN1133171C | 公开（公告）日： | 2003-12-31 |
| 发明（设计）人： | 周基凤;柳财奔;止一植;韩熙 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11C11/34 | 分类号： | G11C11/34 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 谢丽娜 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 利用测试设备测试具有扩展输出模式功能的半导体存储器件的方法，所述测试设备具有低于欲测试存储器件的工作速度的最大频率。测试设备从多个普通时钟信号中选择两个时钟信号并调制，使它们成为满足存储器件的工作周期时间的时钟信号。关于时钟调制，使用规定作为行地址信号和列地址信号供应的两个普通时钟信号。调制时钟信号作为/CAS信号供给存储器件。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 时钟 调制 技术 测试 高速 存储 器件 方法 | ||
【主权项】：
1.利用测试设备测试具有工作频率的半导体存储器件的方法，所述测试设备产生多个具有低于存储器件的工作频率的最大频率值的普通时钟信号，所述测试方法包括以下步骤：通过调制多个普通时钟信号中的第一和第二普通时钟信号产生调制时钟信号，以使所述调制时钟信号的最大频率等于或大于存储器件的工作频率；给存储器件提供调制时钟信号，作为存储器件的特定控制信号；及根据多个测试项测试存储器件的电特性。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社，未经三星电子株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/97116553.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
