[发明专利]载体和半导体器件无效

专利信息
申请号: 96195696.8 申请日: 1996-07-18
公开(公告)号: CN1144277C 公开(公告)日: 2004-03-31
发明(设计)人: 鹤见浩一;山本宪一 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王永刚
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 载体、半导体器件,及其安装方法,该方法可提高安装在电路板上的半导体器件的如耐热循环的可靠性。半导体器件1包括用于半导体的载体3,并且凹形部分形成在半导体的载体3的外电极8的区域。外电极8设置在半导体的载体上的凹形部分的底部。焊膏13施加到凹形部分,半导体器件1倒装,并且半导体器件1安装到电路板12上。将安装到电路板12上的半导体器件1加热到焊膏13的熔点以上的温度。
搜索关键词: 载体 半导体器件
【主权项】:
1、一种载体,包括:在一面上形成有凹形部分的衬底;在所述衬底的所述凹形部分的底部设置的第一电极,所述第一电极仅占据所述凹形的底部并完全设置于所述凹形内部,所述凹形用于接收粘接到所述第一电极的粘结材料;和形成在所述衬底另一面上的第二电极;所述第一电极和所述第二电极在垂直方向上彼此对准;所述第一电极和所述第二电极通过设置在所述底部上的开口电连接。
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