[发明专利]固定值存储器单元装置及其制造方法无效

专利信息
申请号: 96193413.1 申请日: 1996-04-09
公开(公告)号: CN1083621C 公开(公告)日: 2002-04-24
发明(设计)人: F·霍夫曼;L·列斯彻;W·克劳兹彻奈德;W·罗斯纳 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: H01L27/112 分类号: H01L27/112;H01L21/8246
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 马铁良,萧掬昌
地址: 联邦德*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在固定值存储单元装置中,有第一存储单元,该单元有一个垂直的MOS-晶体管,还有第二存储单元,该单元没有垂直的MOS-晶体管,存储单元设置在沿着平行分布的条形绝缘沟槽(16)的相对侧面上。绝缘沟槽(16)的宽度和距离最好是相同的,因此制造存储单元装置所需要的空间是每个存储单元为2F2,此处F为在当时工艺中的最小结构尺寸。$#!
搜索关键词: 固定 存储器 单元 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
1.固定值存储单元装置,-在此装置中,在一个半导体基片(1)的主面(3)上设有带有存储单元(25,26)的单元区域(5)。-在此装置中,半导体基片(1)至少在单元区域(5)被掺杂为第一种导电类型,-在此装置中,存储单元包括第一存储单元(25),在这里第一逻辑值被存储,并且具有至少一个与主面(3)垂直的MOS-晶体管,还包括第二存储单元(26),在这里第二逻辑值被存储,并且它没有MOS-晶体管,-在此装置中,在单元区域(5)里设有多个平行分布的条形绝缘沟槽(16),-在此装置中,条形掺杂区域(14a,14b)被相应设置在绝缘沟槽(16)的底部和相邻绝缘沟槽(16)之间的主面(3)上,它们被掺杂为和第一种导电类型相反的第二导电类型,它们平行于沟槽(16)分布,-在此装置中,存储单元相应被设置在绝缘沟槽(16)相对的侧壁上,-在此装置中,第一存储单元(25)各包括一个孔(20),它从绝缘沟槽(16)之一的侧壁延伸进绝缘沟槽(16),在它的表面设有栅介质(22),并且它由栅电极(21)填充,因此它在与侧面相邻的条形掺杂区域(14a,14b)形成垂直MOS-晶体管的源/漏区域,-在此装置中,设置字线(21a),它垂直于绝缘沟槽(16)分布,并且和各个设置在相应字线(21a)下面的垂直MOS-晶体管的栅电极相连。
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