[发明专利]利用扫描原子力显微镜的化学鉴别成象无效

专利信息
申请号: 96107366.7 申请日: 1996-02-15
公开(公告)号: CN1083105C 公开(公告)日: 2002-04-17
发明(设计)人: D·霍恩;H·凯勒;W·施列普;S·阿卡里 申请(专利权)人: BASF公司
主分类号: G01N13/16 分类号: G01N13/16;G01B7/34
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 王景朝
地址: 联邦德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种利用化学改性探针借助扫描原子力显微镜的化学鉴别成像法,在其中成像是按法向力模式、弹性模式、搭接模式或非接触模式进行的。
搜索关键词: 利用 扫描 原子 显微镜 化学 鉴别 成象
【主权项】:
1.一种借助扫描原子力显微镜、使用化学改性探针进行化学鉴别成像的方法,在该方法中,用作探针的化学改性的尖头以恒定的斥力在待成象的表面上方移动,尖头与表面之间的距离在范德华斥力区域内,斥力由压电调节器保持恒定,其中化学改性的尖头直接地,或在涂敷金属或氧化物层之后,涂敷至少一种与待分析表面具有选择性相互作用的物质,尖头改性物质是一种具有附加酸或碱官能团的硫醇、具有附加核酸的碱基官能团的硫醇、具有附加酸或碱官能团的二硫化物或具有附加核酸的碱基官能团的二硫化物,并且成象以法线力模式、弹性模式、搭接模式或非接触模式进行,得到待分析表面的化学组成的二维、放大的图象。
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