[发明专利]测量用信号的传输延迟时间测量电路无效
| 申请号： | 96102317.1 | 申请日： | 1996-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN1124491C | 公开（公告）日： | 2003-10-15 |
| 发明（设计）人： | 森川裕八 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;H01L21/66 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 陆立英 |
| 地址： | 暂无信息 | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供在IC测试仪的IC器件接口部的多个测量用信号传输系统路中为了简单而高精度地测量各个传输延迟时间的电路结构，在IC测试仪的IC器件接口部的测量用信号传输系统路中，采用使用连接器34使IC器件接口部33的IC插件板A1成为可以拔插的结构，设置从与IC插件板A1同一批中去掉通孔部的导体的IC插件板B31，采用将其插到IC器件接口部33内，直接只测量作为目的的TPDA11后再将IC插件板B31拔出，置换为插入IC插件板A1取代IC插件板B31的结构。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 信号 传输 延迟时间 电路 | ||
【主权项】：
1.一种传输延迟时间测量电路，该传输延迟时间测量电路用于测量集成电路测试仪的集成电路器件接口部件(33)中的传输系统的传输延迟时间的测量信号，该传输延迟时间测量电路包括：连接器(34)，该连接器(34)能够在集成电路插件板和同轴电缆(8)之间连接或卸下，同轴电缆(8)将信号发生部件(21)与在集成电路器件接口部件(33)中的集成电路插件板相连接；集成电路插件板B(31)，该集成电路插件板B(31)只使用在去掉在与集成电路插件板A(1)在同一批中所制造的产品的在对应于上述连接器(34)的点的通孔A(3)的导体部分的情况下的传输延迟时间测量；并且其中，在上述信号发生部件分(21)与上述连接器(34)的端部之间的传输延迟时间是在集成电路插件板B(31)的一侧处于非导电状态的条件下用反射法直接测量的，上述连接器(34)与上述同轴电缆(8)相连接。
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