[发明专利]硅单晶颈部内消除位错的方法无效
申请号: | 96102274.4 | 申请日: | 1996-06-06 |
公开(公告)号: | CN1148103A | 公开(公告)日: | 1997-04-23 |
发明(设计)人: | 萨达西万·钱德拉赛卡尔;金永民 | 申请(专利权)人: | MEMC电子材料有限公司 |
主分类号: | C30B15/00 | 分类号: | C30B15/00;C30B29/06 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 陈申贤 |
地址: | 美国明*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种用Czochralski方法制备的硅单晶,其特征为包括一个可分为上部、中部和下部的颈部。上部含有位错。中部介在上部和下部之间。大部分中、下部的直径大于10mm,而下部没有位错。该晶体还包括一个邻接颈部下部的向外张开的区段,以及一个邻接向外张开区段的主体。 | ||
搜索关键词: | 硅单晶 颈部 消除 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用Czochralski法制备的硅单晶,其特征为具有:一个可分为上部、中部和下部的颈部,上部含有位错,中部介在上部和下部之间,大多数中部和下部的直径大于10mm,而下部没有位错;一个向外张开的区段邻接颈部的下部;及一个主体邻接向外张开的区段。
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