[发明专利]硅单晶颈部内消除位错的方法无效

专利信息
申请号: 96102274.4 申请日: 1996-06-06
公开(公告)号: CN1148103A 公开(公告)日: 1997-04-23
发明(设计)人: 萨达西万·钱德拉赛卡尔;金永民 申请(专利权)人: MEMC电子材料有限公司
主分类号: C30B15/00 分类号: C30B15/00;C30B29/06
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 陈申贤
地址: 美国明*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种用Czochralski方法制备的硅单晶,其特征为包括一个可分为上部、中部和下部的颈部。上部含有位错。中部介在上部和下部之间。大部分中、下部的直径大于10mm,而下部没有位错。该晶体还包括一个邻接颈部下部的向外张开的区段,以及一个邻接向外张开区段的主体。
搜索关键词: 硅单晶 颈部 消除 方法
【主权项】:
1.一种用Czochralski法制备的硅单晶,其特征为具有:一个可分为上部、中部和下部的颈部,上部含有位错,中部介在上部和下部之间,大多数中部和下部的直径大于10mm,而下部没有位错;一个向外张开的区段邻接颈部的下部;及一个主体邻接向外张开的区段。
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