[发明专利]强度调制辐射场的探测与解调的设备和方法无效

专利信息
申请号: 95196212.4 申请日: 1995-10-28
公开(公告)号: CN1099802C 公开(公告)日: 2003-01-22
发明(设计)人: T·斯皮里;P·塞茨 申请(专利权)人: 莱卡公开股份有限公司
主分类号: H04N5/335 分类号: H04N5/335;H04N3/15;G01S7/491
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 马铁良,萧掬昌
地址: 瑞士希*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种包括大量敏感元件(16)的图像传感器(13)。每个敏感元件(16)具有一光接收部分(17),它根据方位探测射线。每个敏感元件(10)被分配了大量的存储单元(21),在它里面连续存储了在各个敏感元件(16)的光接收部分(17)中所探测到的电荷。根据相同的方式,在图像传感器(13)中根据方位对强度调制的辐射场探测和解调。本发明能推测关于测量目标的测量数据的范围,所以保证对测量目标的测量距离的精确记录。
搜索关键词: 强度 调制 辐射 探测 解调 设备 方法
【主权项】:
1.探测和解调强度调制辐射场的设备,其具有:—一个图像传感器(13、23)由一维或二维排列的敏感元件(16)构成,—其中每个敏感元件(16)由一个用于将射线信号转换为电信号的光接收部分(17)和一个带有至少一个电子开关(22)并带有至少一个分配给开关(22)的存储单元(21,26)的不接收光部分(18)构成,—其特征在于,节拍发生器(14)以下述方式控制电子开关(22),在光接收部分(17)中产生的信号电荷同步于由辐射源发出的调制信号被传送到存储单元(21、26),和为了控制存储单元(21、26)而在各个存储单元(21、26)存储的测量值被传输到用于分析测量值的分析单元(15)。
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