[发明专利]探测短暂受激发光的方法无效
| 申请号： | 95193304.3 | 申请日： | 1995-05-17 |
| 公开（公告）号： | CN1149335A | 公开（公告）日： | 1997-05-07 |
| 发明（设计）人： | G·L·杜维尼克;D·尼莎夫尔;M·埃拉特 | 申请（专利权）人： | 希巴-盖吉股份公司 |
| 主分类号： | G01N21/77 | 分类号： | G01N21/77;G01N21/64 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 樊卫民 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种利用平面介电光学传感器平台测定发光的方法，该平台由其上涂敷一层透明波导层(b)的透明基底(a)组成，传感器平台设有一个光栅，用于激励光的输入耦合，所述基底(a)的折射率低于波导层(b)的折射率，使液体样品与层(b)相接触，用光电方法测量样品中具有发光特性的物质所产生的发光，或固定在层(b)上的具有发光特性的物质所产生的发光，本发明也涉及利用本方法作定量的亲和性检测，并用于定量测定在光学浑浊液中的发光成分。 | ||
| 搜索关键词： | 探测 短暂 激发 方法 | ||
【主权项】：
1.一种利用平面介电光学传感器平台测定发光的方法，该平台由其上涂敷一薄层透明波导层(b)的透明基底(a)组成，传感器平台设有一个光栅，用于激励光的输入耦合，所述基底(a)的折射率低于波导层(b)的折射率，使液体样品与层(b)相接触，用光电方法测量样品中具有发光特性的物质所产生的发光，或固定在层(b)上的具有发光特性的物质所产生的发光，其特征是，(A)激励光被耦合进入平面波导，并渡越波导层，于是具有发光特性的物质受到激励，在波导层的短暂场内发光，(B)光栅的调制深度为3-60nm，(C)层(b)的厚度为40-160nm，(D)调制深度与层(b)的厚度之比小于0.5。
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