[发明专利]二组分物质各组分含量的联合在线测量方法及所用装置无效

专利信息
申请号: 95107508.X 申请日: 1995-06-23
公开(公告)号: CN1126316A 公开(公告)日: 1996-07-10
发明(设计)人: 沈毅;王艳 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01N23/06 分类号: G01N23/06
代理公司: 哈尔滨专利事务所 代理人: 刘娅
地址: 150001 黑龙江*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 发明是一种用于在线测量薄型带状两组分物质中各组分含量的测量方法及其所用装置,它采用两个不同的放射源,设置两个探测器,还包括单片机及显示电路,待检测的物质置于两个放射源和两个探测器之间,借助于不同种物质对射线,特别是γ射线的质量衰减系数不同的特点,选择两组射线,测出射线穿过被测物质的衰减率,经软件处理即可得出各组分含量,本发明适用于造纸工业、冶金工业、轻工或航空航天复合材料制做等领域。
搜索关键词: 组分 物质 各组 含量 联合 在线 测量方法 所用 装置
【主权项】:
1、一种二组分物质各组分含量的联合在线测量方法:采用两个放射源,第1步根据不同种物质,尤其是构成元素原子序数相差较大的两种物质,对射线的质量衰减系数不同,选择出两组射线,即β射线、γ射线或双γ射线;第2步确定放射源强度,它是依据被测合成物质的质量厚度及放射源与接收器距离决定的,该强度可在几毫居里—几十毫居里;第3步把被测片状或薄型带状合成物质置于两个放射源和两个探测器之间,定好相互间的距离不变,穿过被测物质的射线使探测器的闪烁体产生荧光,再经光电倍增管转换成电脉冲,最后由计算机对脉冲计数、处理,测量中采用如下的测量公式:  Iβ=I0βl-(Um1βXm1+Um2βXm2)]]>  Iγ=I0γl-(Um1γXm1+Um2γXm2)]]>或Iγ1=I0γ1l-(Um1γ1Xm1+Um2γ1Xm2)]]>    Iγ1=I0γ2l-(Um1γ2Xm1+Um2γ2Xm2)]]>其中Xm=Xm1+Xm2a1=Xm1/(Xm1+Xm2)a2=Xm2/(Xm1+Xm2)式中I0—射入吸收物质前的射线辐射量I—穿过被测物质后的射线辐射量μm—质量吸收系数,单位为cm2/gXm—物质的质量厚度,单位为g/Cm2a1、a2分别为两种物质在总的质量厚度中所占比重,Iβ、Iγ或等参数值可通过实测、查表或标定得出。
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