[实用新型]阿贝高精度电子数显卡尺无效
| 申请号： | 94225042.7 | 申请日： | 1994-01-08 |
| 公开（公告）号： | CN2192875Y | 公开（公告）日： | 1995-03-22 |
| 发明（设计）人： | 叶洪源 | 申请（专利权）人： | 叶洪源 |
| 主分类号： | G01B7/02 | 分类号： | G01B7/02 |
| 代理公司： | 中国科学院沈阳专利事务所 | 代理人： | 张扬生 |
| 地址： | 110015 辽宁*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 阿贝高精度电子数显卡尺是对现有电子数显卡尺的改进，它包括栅尺、框尺、尺架和液晶显示屏，其特征是在机械结构上作为测量标准量的栅尺及框尺与工件的被测量在同一直线上，遵循了阿贝测长原则，该栅尺可以是容栅的，可以是磁栅的，也可以是光栅的，在栅尺上可带有弹性微动框，具有结构简单，使用方便，测量精度高，比现有技术提高了一个数量级，测量范围广等特点。 | ||
| 搜索关键词： | 高精度 电子 显卡 | ||
【主权项】：
1、阿贝高精度电子数显卡尺属于一种长度测量工具，它包括栅尺(4)，在栅尺(4)上有动测砧(3)，框尺(5)套装在栅尺上，框尺(5)上装有液晶显示屏(7)，其特征是框尺(5)与尺架(1)成一圆弧形，中间装有隔热片(11)，尺架(1)内侧装有定测砧(2)将被测工件(12)放在动测砧(3)和定测砧(2)之间，即在同一直线上，满足阿贝长度原则。
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