[实用新型]多功能智能编程测试仪无效

专利信息
申请号: 94222938.X 申请日: 1994-10-11
公开(公告)号: CN2205574Y 公开(公告)日: 1995-08-16
发明(设计)人: 李沛时;罗志强;杨曦;刘久文 申请(专利权)人: 北京市融力实业公司
主分类号: G06F17/00 分类号: G06F17/00
代理公司: 北京科龙专利事务所 代理人: 王国权
地址: 100053 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型涉及一种多功能智能编程测试仪,可独立完成集成电路测试和EPROM拷贝,可与PC联机完成EPROM、GAL编程、GAL解析。由CPU控制及与其连接的电源、键盘及显示、RS-232通讯、输入输出激励头等部件构成。与测试夹具连接的激励头在CPU控制下对被测芯片的相应管脚加工作电源、接地、高阻接地、加高/低激励、回读、加编程电压、升降沿触发等,激励头由一系列开关器件组成,在CPU控制下开或关,输出测试所需的各种逻辑电平。
搜索关键词: 多功能 智能 编程 测试仪
【主权项】:
1、一种多功能智能编程测试仪,由CPU控制部件和与CPU控制部件连接的电源部件、键盘和显示部件、RS-232通讯接口、输入/输出激励头,与输入/输出激励头连接的测试夹具组成,其特征在于:所述的测试夹具包括用于IC测试及EPROM拷贝子片的A夹具、用于EPROM拷贝母片的B夹具及用于GAL逻辑解析的C夹具;所述A、B夹具每一管脚上并接有输入激励部件、输出回读部件、上拉电阻R1、上拉电阻R2、电子开关3、电子开关4、电阻R3、电子开关6和电阻R4;上拉电阻R1另一端串接电子开关1后与上拉电源VD连接,上拉电阻R2另一端串接电子开关2后与上拉电源VD连接电子开关3另一端接工作电源VDD,电子开关4另一端接编程电源VPP,电阻R3另一端串接电子开关5后与地连接,电子开关6另一端接地,电阻R4另一端并接C夹具一管脚和输入输出特性判别部件;所述电子开关1至电子开关6的控制端分别连接所述CPU控制部件译码电路的输出端,所述输入激励部件、输出回读部件和输入输出特性判别部件连接CPU控制部件的数据总线,所述输入激励部件、输出回读部件和输入输出特性判别部件的读写控制端分别与CPU控制部件译码电路输出端连接。
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