[发明专利]半导体存储装置无效

专利信息
申请号: 94114816.5 申请日: 1994-07-25
公开(公告)号: CN1043275C 公开(公告)日: 1999-05-05
发明(设计)人: 佐藤弘;吉田敬一;搦川哲也 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所
主分类号: G11C16/02 分类号: G11C16/02;G11C7/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 范本国
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 有一种半导体存储装置,其中包括存储晶体管的存储阵列的众多数据线分成众多的块,这些存储晶体管按照所存数据被安排成矩阵形式并具有高或低的阈电压,以及其中检测放大器用于在时间上分散地放大信号。分别对应于奇数和偶数的相邻的数据线的第一和第二检测放大器组如此安排,以便在第一组检测放大器送出输出信号时,将字线加以切换,同时另一组检测放大器完成操作,将对应于所切换的字线的存储单元中所读出的信号分别予以放大。
搜索关键词: 半导体 存储 装置
【主权项】:
1.半导体存储装置,包括:多条字线;多条数据线;多个存储单元;其中每个存储单元具有第一半导体区和第二半导体区、浮动门和控制门,并且其中控制门与字线之一连接,同时第一半导体区与数据线之一连接,其特征在于,所述半导体存储装置包括:检测放大器,用于将经数据线提供的并在与所选择的字线相连的每个存储单元中存储的数据进行放大,并输出所放大的数据;以及选择切换电路,用于顺序接收选择信号,该选择信号用于将存储在所选择的存储单元中的数据顺序提供给检测放大器;还包括数据选择电路,用于响应于地址信号,选择每个检测放大器的输出信号;其中选择切换电路根据所接收的选择信号将数据顺序提供给检测放大器,并且其中检测放大器顺序放大数据线上的数据并输出所放大的数据,以及其中检测放大器是作为与多条数据线相应的检测放大器而设置的。
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