[发明专利]使用相位变异的光学测距装置及其方法无效
| 申请号： | 94113323.0 | 申请日： | 1994-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN1039158C | 公开（公告）日： | 1998-07-15 |
| 发明（设计）人： | 赵正植 | 申请（专利权）人： | 现代电子产业株式会社 |
| 主分类号： | G01C3/00 | 分类号： | G01C3/00 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 张天舒 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及使用相变异的光学测距装置及方法。本发明装置包括光发射装置、光接收装置、信号发生／相位差检出装置和控制装置。在本发明方法中，使第一和第二为断续脉冲信号乘以基准脉冲信号，低通滤波该相乘信号，使该低通滤波信号进行相位补偿，检出在二个相位补偿信号之间的相位差并在所检出的相位差基础上计算光移动时间，在所计算光移动时间的基础上算出到目标的距离。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 相位 变异 光学 测距 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.使用相位变异的光学测距装置，其包括：—光发射装置，用于发射作为到目标的测距介质的高功率断续脉冲光束；—光接收装置，用于接收从目标反射回来的光束；其特征在于还包括：—信号发生器和相位差检出装置，用于响应从所述光发射装置来的驱动信号和从所述光接收装置来的输出信号而发生第一和第二伪断续脉冲信号，检出在所发生的第一和第二伪断续脉冲信号之间的相位差，以及在所检测的相位差基础上，测量相位延迟时间；以及—控制装置，用于响应从所述信号发生器和相位差检测装置的输出信号而控制系统的全部操作。
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