[发明专利]半导体元件无效

专利信息
申请号: 94109104.X 申请日: 1994-08-19
公开(公告)号: CN1052344C 公开(公告)日: 2000-05-10
发明(设计)人: 矢野和男;石井智之;桥本孝司;关浩一;青木正和;阪田健;中込仪延;竹内干 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L27/105
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王永刚
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种场效应半导体元件,它是用少数元件实现的并具有较小的面积且能够在不需要进行低温冷却的情况下通过其存储数据。栅极-沟道电容被设定得如此地小,以致能根据该半导体场效应晶体管元件电流的改变明确而清楚地检测出捕获区是否俘获到了一个电子或空穴。通过检测该半导体元件的阈值电压由于在捕获区中捕获电子或空穴而产生的改变,就能在室温下实现数据存储。
搜索关键词: 半导体 元件
【主权项】:
1.半导体元件,包括:一个构成所述半导体元件的源极的源极区;一个构成所述半导体元件的漏极的漏极区;一个设置在所述源极区和所述漏极区之间并用于将它们连接起来的有效沟道区;一个栅极电极,它通过设置在所述栅极电极和所述有效沟道区之间的一个栅极绝缘膜而与所述有效沟道区相连接;其特征在于,该半导体元件还包括:载流子约束区,它形成在所述源极区和所述漏极区之间并位于所述有效沟道区中的电流路径附近并用于俘获至少一个载流子,其中所述栅极电极和所述有效沟道区之间的有效电容被设定得如此地小,以致满足于由以下不等式给出的条件:1/Cgc>kT/q2其中Cgc代表所述有效电容,k代表玻尔兹曼常数,T代表以绝对温度表示的操作温度,且q代表一个电子的电荷。
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