[发明专利]无损检测钕在钇铝石榴石激光晶体中分布梯度装置无效

专利信息
申请号: 94102343.5 申请日: 1994-03-21
公开(公告)号: CN1036293C 公开(公告)日: 1997-10-29
发明(设计)人: 颜炳玉 申请(专利权)人: 颜炳玉
主分类号: G01N21/39 分类号: G01N21/39
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100010 北京市东*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 无损检测钕在钇铭石榴石激光晶体中分布梯度装置,吸收光谱测量系统检测Nd在YAG晶体轴向的分布梯度,由于晶体的圆柱形表面为毛面,有很大的散射损失,将晶体放在盛有折射率与NdYAG大致相同液体的玻璃池中,以便得到较准确的光谱吸收值,还用散射光谱测量系统测量散射损失,进行补偿。并将参考棒与被测棒作比较测量。可达到用少量的参考棒测量多批量的晶体,节省了材料和费用。
搜索关键词: 无损 检测 石榴石 激光 晶体 分布 梯度 装置
【主权项】:
1.无损检测钕在钇铝石榴石激光晶体棒中分布梯度装置,有电源部分(16,17),两个半导体激光器(1,2),半导体激光器(1,2)的电源18和19;一个盛有折射率与Nd:YAG晶体大致相同的液体的玻璃池(12);在玻璃池(12)和反射镜(9)之间设置一个防止杂散光进入测试光路的光栏(11);一个会聚透过晶体光强的聚光镜(13);其特征在于:设有第一个半导体激光器(1)的激光能为Nd:YAG晶体吸收的波长;第二个半导体激光器(2)的激光能为不被Nd:YAG晶体吸收的波长;在显微物镜(3)和反射镜(9)之间依次设有衰减片(5)、遮光器(7);在第二个显微镜(4)和反射镜(10)之间按次序设有衰减片(6)、遮光器(8);一个接收从聚光镜(13)来的光强的光电转换器(14);玻璃池(12)的长轴与激光的光轴垂直。
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