[发明专利]检测熔化的树脂中所含杂质的方法无效
| 申请号： | 93121406.8 | 申请日： | 1993-11-24 |
| 公开（公告）号： | CN1078351C | 公开（公告）日： | 2002-01-23 |
| 发明（设计）人： | 安尾浩行;出口洋成 | 申请（专利权）人： | 住友电气工业株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/89 | 分类号： | G01N21/89 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 张志醒,肖掬昌 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种检测熔化树脂中杂质的方法。熔化树脂经过一个带有透光窗口的通道。光从光源中射出并通过窗口；而熔化树脂流过该通道。用传感器检测光被熔化树脂中所含杂质中断时产生的阴影。最后；由阴影宽度和光强度测定杂质大小。如果由检测通过熔化树脂的光所得到的光信号表明在暗区周围存在亮区；则可作出判断暗区即是杂质的阴影。此外，为了以高精度判断杂质的形状并记录下其图像，可采用将用于上述方法中的装置与传统摄像机结合的方式。$#! | ||
| 搜索关键词： | 检测 熔化 树脂 杂质 方法 | ||
【主权项】：
1.一种检测熔化树脂中杂质的方法，包括以下步骤：让熔化的树脂通过一个带有可透光窗口的通道；使光源发出的光通过所述窗口和流过所述通道的熔化树脂；以及用一个传感器检测当光源发出的光被熔化树脂中所含杂质中断时产生的阴影，其特征在于，还包括一个判断步骤，以判断杂质是否存在，即在一个暗区周围存在亮区时，判断为有杂质的阴影；以及一个测定步骤，以测定杂质的大小，即由所述传感器根据所述阴影的宽度和阴影的光强度测定杂质的大小。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于住友电气工业株式会社，未经住友电气工业株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/93121406.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：治疗脚气药套袜
- 下一篇：一种简易乳垫、及该简易乳垫的制造设备和制造方法
