[发明专利]陶瓷体及其变化检测方法和剩余寿命值确定方法无效
| 申请号： | 93117324.8 | 申请日： | 1993-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN1053739C | 公开（公告）日： | 2000-06-21 |
| 发明（设计）人： | 安富义幸;宫田素之;菊池茂;齐藤幸雄 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立制作所 |
| 主分类号： | G01N33/38 | 分类号： | G01N33/38 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 吴大建 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 为诊断寿命并达到维护要求，在应用时受应力作用并随应力而逐渐变化的烧结陶瓷体（１）中装上与烧结陶瓷材料接触的导电元件（２），其电阻可测并根据陶瓷体变化而加大，这样可得有关陶瓷体变化的信息，其中将电阻测量设备（６）与导电元件（２）连接，而元件（２）中从其横截面上看可包括细长元件如纤维或晶须的集束。 | ||
| 搜索关键词： | 陶瓷 及其 变化 检测 方法 剩余 寿命 确定 | ||
【主权项】：
1.一种陶瓷体(1)，在应用时经受应力作用并因应力作用而逐渐变化，所述陶瓷体包括烧结陶瓷材料和与该材料接触的导电元件(2)，其特征在于所述元件(2)具有随所述陶瓷体变化而增大的、可被直接测量的电阻，使得可在一定程度上获得有关所述陶瓷体变化的信息。
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