[实用新型]用于测量三坐标机机构误差的三维电容测头无效
| 申请号： | 92200014.X | 申请日： | 1992-01-03 |
| 公开（公告）号： | CN2121676U | 公开（公告）日： | 1992-11-11 |
| 发明（设计）人： | 张国雄;臧艳芬 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G01B7/03 | 分类号： | G01B7/03 |
| 代理公司： | 天津大学专利代理事务所 | 代理人： | 张锐 |
| 地址： | 30007*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 一种用于测量三坐标机机构误差的三维电容测头。本实用新型属于长度计量与测试技术领域。三维电容测头的结构特征在于固定在同一刚性支架上的三个电容测头的测量面中心法线两两相互垂直，并交于一点，交点至三个测量面的距离相等，它具有电容测微仪精度高和非接触测量的特点。三维电容测头与标准球阵上的某一球瞄准定位时，可同时读出球在三个坐标方向的坐标值。与一维球列一起使用可以测量得到三坐标机的21项机构误差。适用于任何形式的三坐标机。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 坐标 机构 误差 三维 电容 | ||
【主权项】：
1、用于测量三座标机机构误差的三维电容测头，其特征在于它由刚性支架(1)，通用平面电容(2)，“L”形电容测头(3)和(4)组成，所说的电容测头(2)、(3)和(4)的测量面常为圆形平面，这三个圆形平面的中心法线两两相互垂直，并且交于一点，这三个圆形平面分别与交点的距离相等，电容测头(2)、(3)和(4)均安装在刚性支架(1)上，电容测头(2)、(3)和(4)的输出端分别由屏蔽导线与电容测微仪的三个输入端相联接。
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