[发明专利]半导体元件直流耐压自动测试器

摘要

半导体元件直流耐压自动测试器属于一种用于测定半导体元件直流耐压的新型测试装置。本发明特点是，自动调控测试电压，测量电流多档可选；测试精度高，造价低；整机工作安全可靠，小巧轻便，弥补了一般公知的半导体元器件测试设备的不足。本发明包括自动恒流测压系统和自动步进调压系统两部分。

主权项

1.一种用于测定半导体元件直流耐压的新型自动测试器，其特征是：该测试器包括自动恒流测压系统SA和自动步进调压系统SB两部分，自动恒流测压系统SA由测量与取样单元1、恒流控制单元2组成，自动步进调压系统SB由区间电压比较单元3、步进电压控制单元4、步进电压驱动单元5、辅助步进电压插入单元6组成；测量与取样单元1由开关SW1、SW2、K，电阻R1-R10、R37-R40，稳压二极管D1、D9，外供电源E3和接线端子P1-P4构成，恒流控制单元2由运算放大器A1，三极管T01、T02，二极管D2、D3，电阻R11-R14和外接主电源E1，电路工作电源1V+、1V-组成，区间电压比较单元3由运算放大器A2、A3，二极管D5-D8，电阻R15-R26构成，步进电压控制单元4由时基集成电路IC1、数字集成电路IC2-IC4、电阻R61、R62、电容器C、二极管D20、D21组成，步进电压驱动单元5由电阻R41-R60，三极管T1-T10，二极管D10-D19，发光二极管L1-L10，超小型继电器J0-J9组成，辅助步进电压插入单元6由超小型继电器触点J0-J9、限流电阻R27-R36、二极管D4组成；在测量与取样单元1中，SW1和电阻R1-R7组成测量电流选择电路，其一端与转换开关SW2连接，另一端与三极管T02F-38、R39、D9组成的回路分别接通，电阻R9与R10构成的串联支路与二极管D1并联后，一端与R8连接，另一端接入开关SW1与SW2之间并接地，单元2的R11接入R9与R10之间，开关K与电阻R40串联支路一端与端子P1同时接入开关SW2一个接线端，支路另一端与端子P2同时接入开关SW2的另一个接线端，端子P3分别与开关SW2两个接线端及辅助步进电压插入单元6限流电阻R27一R36联结点相连，端子P4分别与R39、D9与E3负极连接，R37分别与电源E3正极、R38及D9联结；在单元2中，R11与R12分别接入A1正负极，R13分别连接T01基极与A1输出端，T01集电极与A1正电源1V+相连，发射极通过R14与负电源1V-连接，发射极同时接入T02基极，T02集电极分别与电源E1正极及区间电压比较单元3的R17与R19连接，T02发射极分别与单元3的R15及单元6的二管D4连接；在单元3中，运算放大器A2输出端与R25串接，输入端正负极分别连接R22与R21，并在正负极两支路间同时并联D5与D6，A3输出端与R26串接，输入端正负极分别连接R23与R24，并在正负极两支路中同时并联二极管D7与D8，R21与R23同时接入R15与R16之间，R22接入R17与R18之间，R24接入R19与R20之间，R16，R18与R20的一端分别与R15、R17与R19串联，另一端接入电源E1负极；在单元4与5中，IC1两侧端与R61、R62、D21与C串联成环路，两个输入端分别接入R61与R62，D21与C之间，D20并联在两个输入端支路中。IC1输出端分别与M1与M2的一个输入端相连，M1另一个输入端与M3输出端连接，M2的另一个输入端与M4输出端连接，M1与M2输出端分别接入IC3、而IC3的D、C、B、A端分别接入IC4；IC4的Y0-Y9+进分配输出端分别通过电阻R41-R50连接三极管T1-T10基极，T1-T10发射极相互连接在一起并接地，J0-J9分别与D10-D19，R51-R60及L1-L10对应支路并联，接入E4正极和分别接入T1-T10集电极；在单元6中，J0-J9分别串接R27-R36并接入端子P3和E1负极。