[发明专利]检测光束准直的剪切干涉仪无效
| 申请号： | 90101910.0 | 申请日： | 1990-04-03 |
| 公开（公告）号： | CN1018386B | 公开（公告）日： | 1992-09-23 |
| 发明（设计）人： | 徐德衍 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00;G02B9/02 |
| 代理公司： | 中国科学院上海专利事务所 | 代理人： | 李兰英,张泽纯 |
| 地址： | 201800 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明属于光学仪器系统领域的一种检测光束准直的剪切干涉仪，用于光学与激光工程，光学与激光实验中光束准直的检测。由入射光阑屏、带有楔角的可以旋转360°的剪切干涉平板和图形观测屏三部分组成。这三部分既可以设计成一体式的，也可以是分离式的。本发明的干涉仪具有检测灵敏度高，可检测较大光束口径，并能够直接给出定量的结果等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 光束 剪切 干涉仪 | ||
【主权项】：
1.一种属于光学仪器系统领域的检测光束准直的剪切干射仪，由入射光阑屏、剪切干涉板和干涉图形观测屏所组成，其特征在于剪切干涉板是带有楔角B的楔形平板(以下简称楔板)，它装入可以旋转360°的框架上，被检测系统的离焦量Δf符合公式：(1)式中，f——被检测系统的焦距，n——楔板玻璃材料的折射率，B——楔板的楔角。a+，a-分别为楔板在0°位置及在180°位置时相应的干涉条纹与X轴的倾角，S——为光束剪切量，符合公式：(2)式中，i——为入射光束在楔板上的入射角，h——为楔板的厚度。
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