[发明专利]用于真空断流器的触点形成材料无效
| 申请号: | 89106638.1 | 申请日: | 1989-08-19 |
| 公开(公告)号: | CN1037725C | 公开(公告)日: | 1998-03-11 |
| 发明(设计)人: | 奥富功;山本敦史;千叶诚司;关口薰旦;大川幹夫;本间三孝;乙部清文;佐藤能也;关经世 | 申请(专利权)人: | 东芝株式会社 |
| 主分类号: | H01H1/02 | 分类号: | H01H1/02;H01H33/66 |
| 代理公司: | 上海专利商标事务所 | 代理人: | 吴俊 |
| 地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | 本发明涉及一种用于真空断流器的触点形成材料,它包括一高导电性组分Ag和Cu以及一耐弧组分WC,其中触点形成材料的结构中包含一基体和一高导电性组分非连续相,所述非连续相的厚度或宽度不超过5微米,耐弧组分非连续粒子的粒度不超过1微米;并且其中高导电性组分非连续相精细而均匀地分散在基体中,其间隔不超过5微米。 | ||
| 搜索关键词: | 用于 真空 断流 触点 形成 材料 | ||
【主权项】:
1.一种含由Ag和Cu构成的高导电性组分和基本上由WC构成的耐弧组成的用于真空断流器的Ag-Cu-WC触点形成材料,其特征在于:所述高导电性组分的含量是:Ag和Cu的总量(Ag+Cu)为25%至65%(重量),Ag占Ag和Cu总量的百分比[Ag/(Ag+Cu)]为40%至80%(重量);所述耐弧组分的含量为35%至75%(重量);所述高导电性组分的结构包括基体和非连续相,所述非连续相的厚度或宽度不超过5微米,被精细地和均匀地分散在所述基体中,其间隔为不超过5微米;并且所述耐弧组分由粒度不超过1微米的非连续粒子所组成。
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