[发明专利]用于真空断流器的触点形成材料无效

专利信息
申请号: 89106638.1 申请日: 1989-08-19
公开(公告)号: CN1037725C 公开(公告)日: 1998-03-11
发明(设计)人: 奥富功;山本敦史;千叶诚司;关口薰旦;大川幹夫;本间三孝;乙部清文;佐藤能也;关经世 申请(专利权)人: 东芝株式会社
主分类号: H01H1/02 分类号: H01H1/02;H01H33/66
代理公司: 上海专利商标事务所 代理人: 吴俊
地址: 日本神奈*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种用于真空断流器的触点形成材料,它包括一高导电性组分Ag和Cu以及一耐弧组分WC,其中触点形成材料的结构中包含一基体和一高导电性组分非连续相,所述非连续相的厚度或宽度不超过5微米,耐弧组分非连续粒子的粒度不超过1微米;并且其中高导电性组分非连续相精细而均匀地分散在基体中,其间隔不超过5微米。
搜索关键词: 用于 真空 断流 触点 形成 材料
【主权项】:
1.一种含由Ag和Cu构成的高导电性组分和基本上由WC构成的耐弧组成的用于真空断流器的Ag-Cu-WC触点形成材料,其特征在于:所述高导电性组分的含量是:Ag和Cu的总量(Ag+Cu)为25%至65%(重量),Ag占Ag和Cu总量的百分比[Ag/(Ag+Cu)]为40%至80%(重量);所述耐弧组分的含量为35%至75%(重量);所述高导电性组分的结构包括基体和非连续相,所述非连续相的厚度或宽度不超过5微米,被精细地和均匀地分散在所述基体中,其间隔为不超过5微米;并且所述耐弧组分由粒度不超过1微米的非连续粒子所组成。
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