[发明专利]光盘介质无效
| 申请号: | 89106079.0 | 申请日: | 1989-07-22 |
| 公开(公告)号: | CN1014750B | 公开(公告)日: | 1991-11-13 |
| 发明(设计)人: | 后藤康之;越野长明;内海研一;津川岩雄;中田正弘 | 申请(专利权)人: | 富士通株式会社 |
| 主分类号: | G11B7/24 | 分类号: | G11B7/24 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利代理部 | 代理人: | 王以平 |
| 地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | 一种利用激光束将信息记录并读出的可抹除光盘介质,它包括(1)相跃迁型信息记录层,(2)光干涉层和(3)光反射层,它按上述次序以下述状态在透明衬底上形成信息记录之前,介质的反射率较高,信息记录之后,介质上信息已记录部分的反射率较低。 | ||
| 搜索关键词: | 光盘 介质 | ||
【主权项】:
1、一种采用从衬底一侧辐射的激光束进行记录和读出信息的可抹除光盘介质,该介质包括:(i)一个相变型信息记录层,它由下面这组材料中选出的一种材料组成:(In100-xSbx)100-yMy其中50≤x≤70(原子%),O≤y≤40(原子%),M为Al、Si、P、Zn、Ga、Ge、As、Se、Ag、Cd、Sn、Te、Tl、Bi、Pb、Mo、Ti、W、Au和/或Pt,以及(Te100-xGex)M′y其中20≤x≤60,O≤y≤50,M′为Al、Si、P、Zn、Ge、Ce、As、Se、In、Sb、Ag、Cd、Sn、Tl、Pi、Pb、Mo、Ti、W、Au、和/或Pt;(ii)一个光干涉层;其厚度d(nm)为(150+N×180),其中,为干涉层材料的折射率,N为零或正整数,和(iii)一个光反射层,这些层按上述次序以下述状态形成在透明衬底上,信息被记录前通过衬底测量得到的介质的反射率高于信息记录之后介质中已记录信息部分的反射率,其中未记录状态下的反射率为70%或更高,记录部分的反射率在记录之前和之后的差值为20%或更高。
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