[发明专利]平面波天线零桥断层成像测试装置

摘要

平面波天线零桥断层成像测试装置，属于非金属材料的无损检测和断层成像技术。本发明的微波部分设计采用B面扩展的窄波束喇叭作下斜馈源，同时物面反射体组合成一体，简便地构成予面波器射源同时由微波零桥环路抵消强入射波信号。因而可以精确地检测出目标的微散射场，并直接计算和完成图象处理，由于该微波测试装置实现了大口径天线和强入射被照射，大大提高了系统的分辨力，可实现对较复杂结构的电介材料进行断层成像。

主权项

1.一种平面波天线零桥断层成像测试装置，由微波信号源(7)、扫描与旋转机构(9)微波照射与信息检测器(8)、两路幅相接收机(10)、模/数转换器与接口电路(11)、电子计算机(12)图像显示器(13)，外存贮器(14)和打印机(15)组成，其特征在于：由微波信号源(7)发射出等幅振荡信号，该信号进入微波照射和信息检测器(8)，被测目标被置于该装置内，由程控扫描及旋转机构(9)控制目标的横向扫描位移Δλ和绕自身轴心旋转运动角ΔΦi，由该检测器获得的微波参考信号和被测信号经参考信号通道(17)和被测信号通道(16)后进入两路辐相接收机，检测出的直流电平进入模/数转换器及接口电路转换为数字信号后存入电子计算机(12)进行数据处理和计算后，送入图像显示器(13)显示出重构的图像，全部数据均可送入外存贮器(14)，打印机(15)打印由图像处理后得到的定量分析结果。微波照射与信息检测器(8)采用产生平面波的天线与零桥测量系统合为一体的设计，它由下斜馈窄波束喇叭(28)放置在抛物面天线(36)的焦点上，用开路波导管直接制做的接收天线(33)可放在水平方向任一点上固定，形成可测传输散射及透射波的结构，采用固定天线，而移动被测物体(1)被测物体安装在一个即可以移动又可转动的测试架上，受扫描与转动机构(9)的控制，被测物(1)可做Δλ和ΔΦi的运动，微波号源(7)产生的等幅信号，经隔离器(7)进入定向耦合器(19)，分为两路：一路由耦合■(19)传至谐波混频器(20)，混频后产生的差频信号由通道(17)进入两路幅相接收机(10)作为参考信号；另一路经过定向耦合器(22)又分两路：其一进入主通道(27)充当抛物面下斜馈照射波的振源，产生照射被测物(1)的平面波(21)；其二进入零桥支路(22)充当抵消信号它通过粗调衰减器(23)，移相器(24)和精密极化衰减器(25)进行幅相调整后，用来抵消来自测试支路(32)的入射波分量。