[发明专利]高跨导高厄利(Early)电压模似(MOS)晶体管无效

专利信息
申请号: 86100192.3 申请日: 1986-01-12
公开(公告)号: CN1005884B 公开(公告)日: 1989-11-22
发明(设计)人: 马龙;钱其璈 申请(专利权)人: 南开大学
主分类号: H01L29/68 分类号: H01L29/68;H01L29/50;H01L27/06
代理公司: 南开大学专利事务所 代理人: 耿锡锟
地址: 天津市南开区*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 高跨导高Early电压的Mos晶体管——HGET,属于一族新型半导体集成器件。它能在常规的MOS工艺下制造出跨导为20~40mV,Early电压为40~50V的器件。这种器件放大器的电压增益可达57db,它的等效电路是由两个MOS管和一个双极型晶体管复合构成,它的工艺简单,又能比普通的MOS器件的芯片面积小β倍,用于模拟电路中即能获得高增益,又因互补作用,能灵活满足不同电路的设计要求。
搜索关键词: 高跨导高厄利 early 电压 mos 晶体管
【主权项】:
1.一种由一个MOS晶体管和一个双极型晶体管(图1、A)或者由两个MOS晶体管(图1、B)构成的半导体集成器件,其特征在于增加了一个MOS晶体管或一个双极型晶体管,一共由三支管子(二只MOS晶体管,一只双极型晶体管)复合构成甲乙两类(因为晶体管有两种类型,一类有两种等效复合方式)一共四种复合方式。甲类复合方式:MOS晶体管M1的源极和三级管Q的基极连接,MOS晶体管M2的栅极和晶体管Q的发射极连接,M1的漏极、Q的集电极和M2的源极连接,M1、M2是NMOS晶体管时,Q是NPN型晶体管,这是一种方式(图2、A),M1M2是PMOS晶体管时,Q是PNP型晶体管,构成另一种复合方式(图2、B)。乙类复合方式:M1的源极、M2的栅极和Q的集电极连接,M1的漏极和Q的基极连接,M2的源级和Q的发射极连接,当M1、M2是NMOS时,Q是PNP管,构成一种复合方式(图3、A),当M1、M2是PMOS时,Q是NPN管,这是另一种复合方式(图3、B)。
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