[实用新型]一种集成电路用震动测试设备有效

专利信息
申请号: 202320116710.5 申请日: 2023-02-06
公开(公告)号: CN219143037U 公开(公告)日: 2023-06-06
发明(设计)人: 叶四华 申请(专利权)人: 品欣电子(深圳)有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04;G01M7/02
代理公司: 广东中禾共赢知识产权代理事务所(普通合伙) 44699 代理人: 苗昂
地址: 518000 广东省深圳市南山区招商街道*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种集成电路用震动测试设备,涉及到集成电路检测技术领域,包括测试主体,设置在所述测试主体上的检测腔,所述测试主体的一侧设置有对照单元,所述对照单元的一侧设置有显示器,所述对照单元的另一侧设置有两对控制按钮和若干组检测组件,所述检测腔的腔内顶部设置有横向导轨,所述横向导轨的顶部垂直滑接有纵向导轨,所述纵向导轨的底部滑动连接有安装座,所述安装座的底部安装有摄像头,所述检测腔的腔内两侧均设置有布线板,所述测试主体的另一侧设置有控制器。本实用新型增加了震动测试设备对集成电路各引脚电压检测的检测便捷性,提高震动测试设备的使用效果,具有实用性。
搜索关键词: 一种 集成电路 震动 测试 设备
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