[发明专利]一种上电复位检测电路、集成电路以及芯片在审
| 申请号： | 202311142231.1 | 申请日： | 2023-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN116896364A | 公开（公告）日： | 2023-10-17 |
| 发明（设计）人： | 杜微;聂丹;冷悦;杨磊 | 申请（专利权）人： | 深圳市微源半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | H03K17/22 | 分类号： | H03K17/22;H03K17/687;H03K19/20;H03K17/14 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 阳方玉 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区沙*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请属于上电复位技术领域，提供了一种上电复位检测电路、集成电路以及芯片，由镜像电流模块根据供电端提供的电源生成多路镜像电流，第四NMOS器件的漏极接收第一路镜像电流，第三NMOS器件的漏极和第三NMOS器件的栅极共接接收第二路镜像电流，第一NMOS器件的漏极、第一NMOS器件的栅极、第二NMOS器件的栅极以及第三NMOS器件的源极共接，第二NMOS器件的漏极、反相模块的输入端共接并接入第三路镜像电流，第四NMOS器件的栅极、第四NMOS器件、第一NMOS器件以及第二NMOS器件的源极共接于地，反相模块对输入电压进行反相处理后输出上电复位检测信号，从而无需分压电路即可实现芯片的上电复位检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 复位 检测 电路 集成电路 以及 芯片 | ||
【主权项】：
暂无信息
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