[发明专利]显示屏子像素亮度提取精度评估方法、系统及电子设备在审
| 申请号： | 202311045382.5 | 申请日： | 2023-08-18 |
| 公开（公告）号： | CN116777910A | 公开（公告）日： | 2023-09-19 |
| 发明（设计）人： | 闻铭;郑增强;冯晓帆 | 申请（专利权）人： | 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G02F1/13;G01M11/02;G06T7/90 |
| 代理公司： | 武汉华之喻知识产权代理有限公司 42267 | 代理人： | 邓彦彦 |
| 地址： | 430205 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明提供一种显示屏子像素亮度提取精度评估方法、系统及电子设备，属于显示屏检测领域，方法包括以下步骤：确定MTF测试图案；MTF测试图案包括多个颜色的二维MTF测试图案；获取待测显示屏显示所述MTF测试图案的拍摄图像；基于拍摄图像提取至少一个原色的子像素亮度图，和/或基于所提取的原色子像素亮度图得到多个颜色的子像素亮度图，以根据子像素亮度图评估子像素亮度提取精度。本发明提供的评估方法通过将MTF测试图案设计成彩色，并提取对应原色的子像素亮度图和/或彩色子像素亮度图可以实现对子像素亮度提取精度的快速准确评估，对于Demura和AOI设备实现更好的修复。 | ||
| 搜索关键词： | 显示屏 像素 亮度 提取 精度 评估 方法 系统 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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