[发明专利]分子接合表位预测方法、装置、存储介质及计算机设备在审

专利信息
申请号: 202311010888.2 申请日: 2023-08-11
公开(公告)号: CN116959621A 公开(公告)日: 2023-10-27
发明(设计)人: 黎浩添;黄俊鸿;刘伟 申请(专利权)人: 腾讯科技(深圳)有限公司
主分类号: G16C20/50 分类号: G16C20/50;G16B15/30
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 谭英强
地址: 518000 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 本公开提供了一种分子接合表位预测方法、装置、存储介质及计算机设备。方法包括:获取第一分子的第一分子结构、多个第二分子与第一分子的对接结果,以及第一对比数据;在第一分子的分子表面确定多个候选接合表位;根据对接结果在第一分子的分子表面确定与每一第二分子对应的对接接合表位;计算每一候选接合表位与多个对接接合表位之间的差异,得到每一候选接合表位对应的第二对比数据;基于每一候选接合表位对应的第二对比数据以及第一对比数据计算每一候选接合表位对应的表位评价参数,并基于表位评价参数在多个候选接合表位中确定第三分子与第一分子的目标接合表位。该方法可以提升分子接合表位预测的准确性。
搜索关键词: 分子 接合 预测 方法 装置 存储 介质 计算机 设备
【主权项】:
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