[发明专利]一种卡槽式对位标记及防止铟柱滑移的互连方法有效
申请号: | 202310957727.8 | 申请日: | 2023-08-01 |
公开(公告)号: | CN116666363B | 公开(公告)日: | 2023-09-19 |
发明(设计)人: | 肖钰 | 申请(专利权)人: | 无锡兴华衡辉科技有限公司 |
主分类号: | H01L23/544 | 分类号: | H01L23/544;H01L21/603 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 214000 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种卡槽式对位标记及防止铟柱滑移的互连方法,每组对位标记包括设置在芯片上主标记,以及设置于基板上的辅标记,主标记由中心的点状槽及围绕点状槽的环状槽构成,辅标记大小匹配主标记的外轮廓大小。芯片与电路进行互连时,电路上辅标记处的较大铟柱先接触到芯片上主标记正中央的点状槽,其凹槽的结构对铟柱顶部的球面进行位置的限制。本发明卡槽式对位标记在原有的对位标记区域内进行设计即可,无需增加额外的工序,且具有倒装时的对位以及互连时的芯片固定双重作用。本发明的互连方法,即可适用单面铟的互连,也可用于双面铟的互连工艺,且受压方向和受压力度更准确,可有效防止芯片的偏移,并大幅度缩短工艺时长。 | ||
搜索关键词: | 一种 卡槽式 对位 标记 防止 滑移 互连 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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