[发明专利]一种芯片质量检测模型的构建方法及终端在审
| 申请号： | 202310663121.3 | 申请日： | 2023-06-06 |
| 公开（公告）号： | CN116883316A | 公开（公告）日： | 2023-10-13 |
| 发明（设计）人： | 宋轩;谢洪彬;郑少铭;张嘉晖 | 申请（专利权）人： | 南方科技大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/77;G06V10/764;G06V10/82;G06N3/0464;G06N3/048;G06N3/0455;G06N3/08 |
| 代理公司： | 深圳市博锐专利事务所 44275 | 代理人： | 王芳 |
| 地址： | 518000 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明提供的一种芯片质量检测模型的构建方法及终端，通过样本数据集构建语义特性向量，从而实现对样本数据集识别和分类，同时将图像的属性特征向量与语义特征向量之间建立映射关系，则在遇到未学习过的芯片缺陷时能够进行识别和分类，实现零次学习，使得芯片质量检测模型能够识别从未出现过的芯片缺陷问题，提高芯片质量检测模型的准确率；最后，通过卷积神经网络和生成模型扩充图像的属性特征向量，扩大样本数据集，无需通过卷积神经网络多次提取图像的属性特征向量，在减少卷积神经网络计算量的同时有效增强模型的泛化性和鲁棒性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 质量 检测 模型 构建 方法 终端 | ||
【主权项】：
暂无信息
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