[发明专利]一种光学系统远心度和像高的测量装置在审
| 申请号： | 202310587580.8 | 申请日： | 2023-05-23 |
| 公开（公告）号： | CN116698368A | 公开（公告）日： | 2023-09-05 |
| 发明（设计）人： | 张泽龙 | 申请（专利权）人： | 上海镭望光学科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 秦翠翠 |
| 地址： | 201821 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 一种光学系统远心度和像高的测量装置，包括：第一测量模块、第二测量模块、采集模块和控制模块；第一测量模块用于将光束透过待测光学组件后所产生的变化的光束角度转化为对应的光束位置；第二测量模块配合第一测量模块使用，用于将光束透过待测光学组件后所产生的像高转化为不同角度的像的质心间距；采集模块用于采集光束位置和质心间距，并将采集的光束位置和质心间距发送至控制模块；控制模块用于根据光束位置计算待测光学组件的远心度，及根据质心间距计算待测光学组件的像高。通过设计一套测量装置兼容远心度和像高的测量，在测量像高时，只需要在远心度测量的基础上增加第二测量模块即可，与现有采用两套不同测量系统相比，提高了测量效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学系统 远心度 测量 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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