[发明专利]一种半导体器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 202310533505.3 申请日: 2023-05-12
公开(公告)号: CN116281846B 公开(公告)日: 2023-08-01
发明(设计)人: 康晓旭;郭佳惠;高晋文;陆原;王晋 申请(专利权)人: 润芯感知科技(南昌)有限公司;华润微电子控股有限公司
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00;B81B7/00;B81B7/02
代理公司: 北京市磐华律师事务所 11336 代理人: 高伟
地址: 330200 江西省南昌市高新技术*** 国省代码: 江西;36
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摘要: 发明提供一种半导体器件及其制造方法,所述方法包括:提供敏感材料层,敏感材料层包括第一表面和第二表面;在敏感材料层的第二表面上形成牺牲层和包围牺牲层的边墙层,边墙层的顶部形成有连接牺牲层的释放孔,边墙层的底部设置在敏感材料层的第二表面上;自敏感材料层的第一表面起依次刻蚀敏感材料层和边墙层,以形成贯穿敏感材料层、并延伸至边墙层内部的凹槽,凹槽的开口与边墙层的底部相对设置;形成填充凹槽的填充层;通过释放孔去除牺牲层,以在边墙层和敏感材料层之间形成空腔结构。本发明能够降低敏感材料层与边墙层之间的界面层的腐蚀速度,避免在敏感材料层与边墙层之间产生开裂。
搜索关键词: 一种 半导体器件 及其 制造 方法
【主权项】:
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