[发明专利]一种X射线光栅干涉仪能谱特性测量装置及测量方法在审
| 申请号： | 202310528125.0 | 申请日： | 2023-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN116626739A | 公开（公告）日： | 2023-08-22 |
| 发明（设计）人： | 邓锴;李晶;袁建强;张光亚;谢卫平 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院流体物理研究所 |
| 主分类号： | G01T1/36 | 分类号： | G01T1/36;G01T7/00 |
| 代理公司： | 成都行之专利代理有限公司 51220 | 代理人： | 李朝虎 |
| 地址： | 621000*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种X射线光栅干涉仪能谱特性测量装置及测量方法，涉及核辐射探测技术领域，包括屏蔽套筒，屏蔽套筒内部安装有能谱探头，屏蔽套筒的端部安装有无损滤光片，无损滤光片上开设有小孔；屏蔽套筒安装在定位调节机构上；X射线光栅干涉仪拥有分析光栅和X射线面探测器，且具备扫描获取静态步进曲线的能力。具有检测精度高、制作成本低、且操作十分便捷的有点，能够测量各类X射线光栅干涉仪的能谱特性，测量的能段高，能够满足目前科研和工程上的需求。相较于现有的基于光子技术探测器的方法，大幅降低了使用的成本；通过特殊设计的无损滤光片，约束能谱探头的实际灵敏区域，降低了因角度错位等因素导致的能谱特性数据的劣化。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 光栅 干涉仪 特性 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
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