[发明专利]一种道床劣化状态的快速无损检测方法在审

专利信息
申请号: 202310527423.8 申请日: 2023-05-11
公开(公告)号: CN116427221A 公开(公告)日: 2023-07-14
发明(设计)人: 高睿;胡启航;袁志文 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: E01B35/00 分类号: E01B35/00;E01B1/00
代理公司: 武汉宇晨专利事务所(普通合伙) 42001 代理人: 李鹏
地址: 430072 *** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种道床劣化状态的快速无损检测方法,在各检测点处选取道砟颗粒进行扫描;根据道砟颗粒点云数据计算道砟颗粒点云所围区域内体积最大的内接椭球的体积和真椭球度;使用真椭球度计算各检测点处道床劣化指数,进行道床劣化状态评估。本发明通过对有限个道砟颗粒劣化的状态进行无损检测,在检测过程中确保不受设备质量和环境因素的干扰,计算与道床劣化状态具有高度相关性的道床劣化指数,评估道床的劣化状况,推动实际工程中更全面准确的道床状况评估和维护活动,以节省维护资源。
搜索关键词: 一种 道床 状态 快速 无损 检测 方法
【主权项】:
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