[发明专利]一种早期测量方法、装置、芯片及模组设备在审
申请号: | 202310407614.0 | 申请日: | 2023-04-17 |
公开(公告)号: | CN116321323A | 公开(公告)日: | 2023-06-23 |
发明(设计)人: | 张敏;王星 | 申请(专利权)人: | 展讯半导体(成都)有限公司 |
主分类号: | H04W36/00 | 分类号: | H04W36/00;H04W36/08;H04W36/16;H04W24/08;H04W24/10;H04W76/38;H04W52/02 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 陈翠平 |
地址: | 610096 四川省成都市中国(四川)自由贸易*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本申请公开了一种早期测量方法、装置、芯片及模组设备,该方法包括:在第一定时器停止或超时后,响应于第一条件继续进行早期测量;该第一条件为系统消息的早期测量配置信息中的测量频率和公共重选的测量配置信息中的测量频率存在相同的测量频率,该第一定时器用于保证RRC连接释放消息中的早期测量配置信息的时效性。基于本申请所描述的方法,能够在T331定时器停止或超时后,提高早期测量报告的有效性,提高建立载波聚合或多个无线接入技术的双连接的成功率,并且不增加额外大的功耗。 | ||
搜索关键词: | 一种 早期 测量方法 装置 芯片 模组 设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
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