[发明专利]一种评价半导体材料的光致阴极保护性能的方法在审
| 申请号： | 202310346501.4 | 申请日： | 2023-04-03 |
| 公开（公告）号： | CN116165257A | 公开（公告）日： | 2023-05-26 |
| 发明（设计）人： | 陈卓元;荆江平;冯昌 | 申请（专利权）人： | 佛山科学技术学院 |
| 主分类号： | G01N27/26 | 分类号： | G01N27/26;G01N27/416 |
| 代理公司： | 佛山市禾才知识产权代理有限公司 44379 | 代理人： | 张晓婷 |
| 地址： | 528000 *** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及光电化学阴极保护技术领域，尤其涉及一种评价半导体材料的光致阴极保护性能的方法。一种评价半导体材料的光致阴极保护性能的方法，包括以下步骤：步骤A、将半导体材料制备半导体电极；步骤B、待保护金属的暗态阳极极化曲线测试：在所需溶液环境和暗态下，测试待保护金属的阳极极化曲线；步骤C、半导体电极的光致阴极极化曲线测试：在所需溶液环境和光照下，测试半导体电极的阴极极化曲线。所述评价半导体材料的光致阴极保护性能的方法，可以在不耦联金属电极的情况下，初步判断半导体电极对特定金属的光致阴极保护性能，表征速度快，且准确率高，解决了现有半导体材料的光致阴极保护性能的表征方法稳定性差、测试效率低的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 评价 半导体材料 阴极保护 性能 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于佛山科学技术学院，未经佛山科学技术学院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202310346501.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：充气轮胎
- 下一篇：一种修护舒安组合物及其应用
