[发明专利]一种非负约束下的超细颗粒物粒径谱反演方法在审
| 申请号: | 202310319542.4 | 申请日: | 2023-03-29 |
| 公开(公告)号: | CN116226594A | 公开(公告)日: | 2023-06-06 |
| 发明(设计)人: | 王焕钦;黄舸航;周纪彤;孙强;刘金鑫;虞发军 | 申请(专利权)人: | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号: | G06F17/16 | 分类号: | G06F17/16;G01N15/02 |
| 代理公司: | 合肥国和专利代理事务所(普通合伙) 34131 | 代理人: | 吴娜;张祥骞 |
| 地址: | 230031 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
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| 摘要: | 本发明涉及一种非负约束下的超细颗粒物粒径谱反演方法,包括:获取传递函数矩阵以及对应的响应矩阵;建立传递函数矩阵和响应矩阵之间的关系式;采用对数正则化项矩阵来提供固定的正尺寸分布;拟合对数正则化项矩阵,将初始数浓度矩阵、初始系数矩阵代入正则化求解公式,迭代获取N个正则化解、残差项以及正则化项;获取最优的正则化参数λ,进而获取最优系数矩阵,绘出粒径谱图。在颗粒物粒径谱反演过程中采用L‑curve和正则化方法,解决反演过程中传递函数矩阵的病态性问题,降低响应误差造成的粒径谱反演误差;解决反演过程中存在的非负性问题,并且可以恢复尖锐的尺寸分布。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 约束 颗粒 粒径 反演 方法 | ||
【主权项】:
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