[发明专利]一种非负约束下的超细颗粒物粒径谱反演方法在审

专利信息
申请号: 202310319542.4 申请日: 2023-03-29
公开(公告)号: CN116226594A 公开(公告)日: 2023-06-06
发明(设计)人: 王焕钦;黄舸航;周纪彤;孙强;刘金鑫;虞发军 申请(专利权)人: 中国科学院合肥物质科学研究院
主分类号: G06F17/16 分类号: G06F17/16;G01N15/02
代理公司: 合肥国和专利代理事务所(普通合伙) 34131 代理人: 吴娜;张祥骞
地址: 230031 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明涉及一种非负约束下的超细颗粒物粒径谱反演方法,包括:获取传递函数矩阵以及对应的响应矩阵;建立传递函数矩阵和响应矩阵之间的关系式;采用对数正则化项矩阵来提供固定的正尺寸分布;拟合对数正则化项矩阵,将初始数浓度矩阵、初始系数矩阵代入正则化求解公式,迭代获取N个正则化解、残差项以及正则化项;获取最优的正则化参数λ,进而获取最优系数矩阵,绘出粒径谱图。在颗粒物粒径谱反演过程中采用L‑curve和正则化方法,解决反演过程中传递函数矩阵的病态性问题,降低响应误差造成的粒径谱反演误差;解决反演过程中存在的非负性问题,并且可以恢复尖锐的尺寸分布。
搜索关键词: 一种 约束 颗粒 粒径 反演 方法
【主权项】:
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