[发明专利]对在电子显微镜下研究的样品的漂移校正的自动化应用在审
| 申请号： | 202310309256.X | 申请日： | 2020-08-12 |
| 公开（公告）号： | CN116453924A | 公开（公告）日： | 2023-07-18 |
| 发明（设计）人： | F·S·沃尔登二世;J·小达米亚诺;D·P·娜茨卡希;D·S·加尔迪内;M·于贝尔;A·P·弗兰克斯;B·雅各布斯 | 申请（专利权）人： | 普罗托芯片有限公司 |
| 主分类号： | H01J37/22 | 分类号： | H01J37/22;H01J37/26;G06T7/215;G06T7/33;H04N5/222 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 郑勇 |
| 地址： | 美国北卡*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及一种配置成在电子显微镜环境中进行样品跟踪的控制系统。该控制系统对与位于利用电子显微镜观察的样品的活动区域内的受关注区域相关联的移动进行配准。被配准的移动包括至少一个方向分量。受关注区域位于电子显微镜的视场内。该控制系统指示对电子显微镜控制组件进行调整，以对通过电子显微镜观察的受关注区域的画面进行动态居中和/或动态聚焦。该调整包括对大小要素和/或方向要素的调整。 | ||
| 搜索关键词： | 电子显微镜 研究 样品 漂移 校正 自动化 应用 | ||
【主权项】：
暂无信息
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