[发明专利]一种考虑土层波速的旁孔检测校正方法及装置在审
| 申请号： | 202310291086.7 | 申请日： | 2023-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN116335211A | 公开（公告）日： | 2023-06-27 |
| 发明（设计）人： | 李超胜;张琦涛;柴露;柳竹青;程四磊;刘伟;毛勇强;刘守华;杨永波;邹宇 | 申请（专利权）人： | 武汉中岩科技股份有限公司 |
| 主分类号： | E02D33/00 | 分类号： | E02D33/00 |
| 代理公司： | 武汉宇晨专利事务所(普通合伙) 42001 | 代理人： | 李鹏 |
| 地址： | 430074 湖北省武汉*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种考虑土层波速的旁孔检测校正方法，通过旁孔透射法，测量桩底深度作为初步测量桩深；选定被测桩和检测孔之间的平整地面作为新的敲击点，触发传感器安装在新的敲击点附近，探头下放至检测孔底；手持激振锤在新的敲击点进行激振；计算各个检测点的校正后的应力波的首波初至时间；根据校正后的应力波的首波初至时间计算最终测量桩深。本发明还公开了一种考虑土层波速的旁孔检测校正装置。本发明将土层纵波波速代入旁孔检测分析过程中，消除土层介质的影响，大大提高了旁孔检测的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 考虑 土层 波速 检测 校正 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉中岩科技股份有限公司，未经武汉中岩科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202310291086.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
