[发明专利]芯片灵敏度测试方法、系统、装置、计算机设备和介质有效
| 申请号： | 202310290149.7 | 申请日： | 2023-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN116032388B | 公开（公告）日： | 2023-07-18 |
| 发明（设计）人： | 林绪彬;余鑫;钟贤耀 | 申请（专利权）人： | 珠海市杰理科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/309 | 分类号： | H04B17/309;H04B5/00 |
| 代理公司： | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 熊文杰 |
| 地址： | 519000 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种芯片灵敏度测试方法、系统、装置、计算机设备和介质，通过分离射频信号和测试信号，分别对应获取射频信号的第一频域数据和测试信号的第二频域数据，从而确定出待测芯片的灵敏度。由于射频信号包括环境里的干扰信号，且测试信号包括环境里的干扰信号，第一频域数据标识了待测芯片接收射频信号的灵敏度，而第二频域数据标识了待测芯片接收测试信号的灵敏度，因此，可以基于第一频域数据，消除第二频域数据中环境对待测芯片灵敏度的干扰，以得到更为精确的灵敏度测试结果，从而加强了芯片灵敏度测试抗干扰能力，提高了对于芯片灵敏度的测试准确度，保证了测试信号较小的测试场景的正常进行。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 灵敏度 测试 方法 系统 装置 计算机 设备 介质 | ||
【主权项】：
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