[发明专利]一种基于子孔径图像的光场图像角度超分辨率方法有效

专利信息
申请号: 202310278131.5 申请日: 2023-03-21
公开(公告)号: CN116309064B 公开(公告)日: 2023-09-15
发明(设计)人: 刘德阳;査海涅;毛逸凡;郑馨;艾列富;张友志 申请(专利权)人: 安庆师范大学
主分类号: G06T3/40 分类号: G06T3/40;G06N3/0464;G06N3/048
代理公司: 北京盛询知识产权代理有限公司 11901 代理人: 相凡
地址: 246000 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明提出了一种基于子孔径图像的光场图像角度超分辨率方法,包括:提取稀疏采样光场子孔径图像阵列的Y通道信息;对所述Y通道信息进行预处理,获取最终的密集采样率光场子孔径图像阵列的Y通道信息;获取最终的密集采样率光场子孔径图像阵列的U通道信息和V通道信息;将所述最终的密集采样率光场子孔径图像阵列的Y通道信息、U通道信息和V通道信息进行合并,并将合并后的通道信息转化到RGB空间,获取最终密集采样光场子孔径图像阵列。本发明可以获得高质量密集采样光场子孔径图像,满足重聚焦、虚拟现实等多种应用的实时性需求。
搜索关键词: 一种 基于 孔径 图像 角度 分辨率 方法
【主权项】:
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