[发明专利]荷电状态评估方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202310269814.4 | 申请日： | 2023-03-16 |
| 公开（公告）号： | CN116306286A | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 黄晓凡;李佳瑞;王彤;汤效平;王兹尧;王光培 | 申请（专利权）人： | 华电电力科学研究院有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/27 | 分类号： | G06F30/27;G06N3/0442;G06N3/0464;G06N3/084;G06F119/02 |
| 代理公司： | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人： | 熊飞雪 |
| 地址： | 310030 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明实施例涉及一种荷电状态评估方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取目标对象的荷电状态评估参数；将荷电状态评估参数输入至第一子模型中的卷积层，利用卷积层包括的多种尺寸的卷积核分别对荷电状态评估参数进行特征提取，生成与每一种尺寸的卷积核分别对应的第一特征矩阵；将每一个第一特征矩阵分别输入至池化层进行自适应池化处理，获取与每一个第一特征矩阵分别对应的第二特征矩阵；将所有的第二特征矩阵输入第二子模型，对目标对象的荷电状态进行评估。如此一来，可以通过多个尺寸的卷积核对荷电状态评估参数分别进行特征提取，比单一尺寸的卷积核所提取的特征更加丰富，进而对荷电状态评估的结果也更加准确。 | ||
| 搜索关键词： | 状态 评估 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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