[发明专利]紫外测距系统及方法在审

专利信息
申请号: 202310268111.X 申请日: 2023-03-15
公开(公告)号: CN116299515A 公开(公告)日: 2023-06-23
发明(设计)人: 刘建国;赵英凯;王跃辉;矫羽;杜阿新;孙凝 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: G01S17/10 分类号: G01S17/10;G01S7/483;G01S7/484;G01S7/486;G01S7/487
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周天宇
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开提供一种紫外测距系统及方法,涉及测距设备领域,紫外测距系统包括:现场可编程的门阵列模块,用于产生多路脉冲电信号;信号发送模块,用于将一路脉冲电信号转化为第一光脉冲信号后发送至待测物体;信号接收模块,用于接收经待测物体反射后的第二光脉冲信号,将第二光脉冲信号转化为数字电信号;时间数字转换器,用于在另一路脉冲电信号的触发下开始时间测量以及在数字电信号的触发下停止时间测量,在接收到数字电信号的条件下,向现场可编程的门阵列模块发送停止指令,将开始时间测量和停止时间测量的时间数据传输至现场可编程的门阵列模块来计算探测距离。本公开具有测距精度高,测距中不易受环境干扰的效果。
搜索关键词: 紫外 测距 系统 方法
【主权项】:
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