[发明专利]一种纯镁金相试样的制备方法在审
| 申请号： | 202310246145.9 | 申请日： | 2023-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN116337566A | 公开（公告）日： | 2023-06-27 |
| 发明（设计）人： | 余恒飞;黄宇彬;童培云 | 申请（专利权）人： | 先导薄膜材料（广东）有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;G01N1/32;G01N1/34 |
| 代理公司： | 清远市诺誉知识产权代理事务所(普通合伙) 44815 | 代理人： | 龚元元 |
| 地址： | 511500 广东省清*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明属于金相试样制备技术领域，公开了一种纯镁金相试样的制备方法。所述制备方法包括如下步骤：(1)将切割好的纯镁试样经砂纸打磨，去除表面氧化层；(2)将步骤(1)处理后的纯镁试样置于电解抛光液中进行抛光处理，所述电解抛光液为含有磷酸和乙醇的水溶液，然后进行清洗；(3)将步骤(2)处理后的试样进行金相组织结构观察。本发明方法避免了长时间机械抛光，抛光和腐蚀同时进行，仅通过一步即可完成金相试样的制备，不需要二次腐蚀，大大缩短了纯镁的金相试样制备时间。适用于锻造态、挤压态、挤压+热轧态和热处理态纯镁金相观察。本发明所采用的电解抛光液成分组成简单、安全环保，抛光后晶界的显示效果好。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 金相 试样 制备 方法 | ||
【主权项】：
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