[发明专利]GaN器件与SiC器件的集成芯片及其制作方法在审

专利信息
申请号: 202310185737.4 申请日: 2023-03-01
公开(公告)号: CN115985909A 公开(公告)日: 2023-04-18
发明(设计)人: 潘茂林;王路宇;徐敏;王强;张鹏浩;谢欣灵;黄海;樊蓉;杨妍楠;徐赛生;王晨;张卫 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: H01L27/06 分类号: H01L27/06;H01L21/82;H01L21/8252
代理公司: 上海慧晗知识产权代理事务所(普通合伙) 31343 代理人: 陈成;周冬文
地址: 200433 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种GaN器件与SiC器件的集成芯片,包括:第一SiC衬底;GaN驱动电路,所述GaN驱动电路包括第一沟道层;所述第一沟道层外延形成于所述第一SiC衬底上,且直接接触所述第一SiC衬底;第一功率器件,所述第一功率器件与所述GaN驱动电路均形成于所述第一SiC衬底上;其中,所述第一SiC衬底的晶格常数适配于所述第一沟道层的晶格常数。本发明提供的技术方案,实现了GaN器件与SiC器件的集成的同时,保证了第一SiC衬底表面生长的第一沟道层的质量,实现了器件性能的提升。
搜索关键词: gan 器件 sic 集成 芯片 及其 制作方法
【主权项】:
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