[发明专利]键合丝键合方法和Shunt-L结构封装在审

专利信息
申请号: 202310159016.6 申请日: 2023-02-23
公开(公告)号: CN116259553A 公开(公告)日: 2023-06-13
发明(设计)人: 郭跃伟;孔令旭;段磊;卢啸;黎荣林;崔健 申请(专利权)人: 河北博威集成电路有限公司
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60;H01L23/48
代理公司: 石家庄国为知识产权事务所 13120 代理人: 付晓娣
地址: 050051 河北省*** 国省代码: 河北;13
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 本申请适用于键合丝键合技术领域,提供键合丝键合方法和Shunt‑L结构封装,该方法包括:获取键合丝,并将键合丝划分为第一键合丝组和第二键合丝组,第一键合丝组中的每条键合丝的长度相同,第二键合丝组中的每条键合丝的长度相同;通过第一键合丝组将裸晶体管输出端和输出引脚进行键合,且第一键合丝组中的键合丝的形状为M型曲线;通过第二键合丝组将裸晶体管输出端和射频隔直电容进行键合,第二键合丝组与射频隔直电容的键合点的位置为M型曲线的凹点的位置相同。本申请可以保证键合丝的键合效果,避免键合密度抑制点的出现。
搜索关键词: 键合丝键合 方法 shunt 结构 封装
【主权项】:
暂无信息
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