[发明专利]一种支持芯片安全调试的控制方法在审
| 申请号： | 202310088743.8 | 申请日： | 2023-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN116185847A | 公开（公告）日： | 2023-05-30 |
| 发明（设计）人： | 林秋;刘戬 | 申请（专利权）人： | 上海华虹集成电路有限责任公司;北京中电华大电子设计有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06F21/60;G06F21/64 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201203 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及芯片安全领域，提供了一种支持芯片安全调试的控制方法，包括输入安全控制单元，安全调试认证单元，访问控制授权单元和权限状态存储单元，通过鉴权技术实现访问认证和授权控制等。在未获得授权的情况下，芯片不能进入调试状态，使得非授权者不能使用调试接口，保护重要数据不被肆意窃取。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 支持 芯片 安全 调试 控制 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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