[发明专利]一种深基坑桩墙顶部水平位移测试方法在审
申请号: | 202310081152.8 | 申请日: | 2023-02-08 |
公开(公告)号: | CN115977176A | 公开(公告)日: | 2023-04-18 |
发明(设计)人: | 王群敏;张文君;黄江华;吴勇;孙浩;周利伟 | 申请(专利权)人: | 中国电建集团华东勘测设计研究院有限公司;浙江华东测绘与工程安全技术有限公司 |
主分类号: | E02D33/00 | 分类号: | E02D33/00 |
代理公司: | 杭州九洲专利事务所有限公司 33101 | 代理人: | 韩小燕;沈敏强 |
地址: | 310014*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明提出一种深基坑桩墙顶部水平位移测试方法,包括:将第一光纤光栅串2和第二光纤光栅串3安装于载体两侧;第一光纤光栅串2和第二光纤光栅串3包括多个测点;在被测对象1上选取与端点距离分别为a和b的两点,记为A和B,并设定A和B的初始水平位移为0;当被测对象1发生变形后,获取变形后第一光纤光栅串2测点的中心波长和变形后第二光纤光栅串3测点的中心波长;获取变形后A和B的位移;计算出各测点的位移。本发明有益的效果:本发明设置两组的光纤光栅串,实时量测各界面的压缩应变和拉伸应变,通过外部基准点测试两端点的水平位移,作为位移边界,从而计算出被测对象的挠度,实现了对被测对象的实时监测,确保了工程的安全。 | ||
搜索关键词: | 一种 基坑 顶部 水平 位移 测试 方法 | ||
【主权项】:
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