[发明专利]一种具有高分辨率的光谱测量元器件及远场光谱测量方法在审
| 申请号： | 202310055697.1 | 申请日： | 2023-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN116086611A | 公开（公告）日： | 2023-05-09 |
| 发明（设计）人： | 陈漪恺;张斗国 | 申请（专利权）人： | 南京理工大学 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人： | 张祥 |
| 地址： | 210094 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种具有高分辨率的光谱测量元器件及远场光谱测量方法，测量元器件包括二氧化硅基底层、高低折射率交替光子晶体层、高折射率调制层、低折射率缺陷层。远场待测光源激发元器件表面的布洛赫表面波后，用CCD成像器件记录反射光信号；然后改变元器件表面的环境，再次记录反射光信号。依据上述两次信号差分结果得到空间上不同位置的相对强度分布。再依据CCD成像器件和元器件之间所处的具体几何位置关系以及元器件自身结构的色散关系，将空间上不同位置的相对强度分布换算成波长间的相对强度关系，即远场待测光源的光谱。本发明所述元器件结构小巧易于扩展，所述方法光源信号利用率高、抗噪效果好。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 具有 高分辨率 光谱 测量 元器件 测量方法 | ||
【主权项】：
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