[发明专利]一种口径天线平面近场测量方法、系统、电子设备及介质有效
| 申请号： | 202310023185.7 | 申请日： | 2023-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN115902430B | 公开（公告）日： | 2023-05-09 |
| 发明（设计）人： | 邓晖;王森林 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10;G01R23/16;G06F17/14 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 万慧华 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种口径天线平面近场测量方法、系统、电子设备及介质，涉及天线测量技术领域。本发明获取待测天线在口径面上的平面波谱；利用谱域滤波函数对平面波谱进行滤波处理，得到待测天线的原始可信谱；利用松弛因子和傅里叶算法对原始可信谱进行修正处理，得到修正可信谱作为待测天线的远场方向图。通过松弛因子和傅里叶算法对原始可信谱进行迭代修正，能够在保证天线平面近场测量效率的同时降低有限扫描面截断误差。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 口径 天线 平面 近场 测量方法 系统 电子设备 介质 | ||
【主权项】：
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